میکروسکوپ پراب پویشی
از ویکیپدیا، دانشنامهٔ آزاد.
میکروسکوپهای پراب پویشی از یک پراب که بر روی نمونه حرکت میکند، برای بررسی سطح نمونهها استفاده میکنند. با استفاده از این میکروسکوپها علاوه بر توپوگرافی سطح، میتوان راجع به اصطکاک، مغناطش، خواص حرارتی و الاستیسیتهی سطح نیز اطلاعاتی بدست آورد که با استفاده از روشهای دیگر قابل دستیابی نیستند.
فهرست مندرجات |
[ویرایش] طبقهبندی
- میکروسکوپ تونلی پویشی
- میکروسکوپ نیروی اتمی
- میکروسکوپ نیروی مغناطیسی
- میکروسکوپ نیروی جانبی (میکروسکوپ نیروی اصطکاکی)
علاوه بر تکنیکهای ذکر شده در بالا، تکنیکهای متعدد دیگری نیز بر پایهٔ میکروسکوپهای پراب پویشی به وجود آمدهاند که کاربردهای کمتری داشته و برای مقاصد خاص مناسب هستند. از جمله:
- میکروسکوپ مدولاسیون نیرو
- میکروسکوپ آشکارساز فازی
- میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک
- میکروسکوپ کاپاسیتانس پویشی
[ویرایش] شرایط کارکرد
معمولا میکروسکوپهای پراب پویشی به آمادهسازی نمونه و یا خلاء بسیار بالا که برای میکروسکوپهای الکترونی لازم است، نیازی ندارند.
[ویرایش] کاربرد
[ویرایش] در علوم زیستی
چون خلاء بسیار بالا و پرتوهای الکترونی به نمونههای زنده آسیب میرساند، در علوم زیستی بیشتر از میکروسکوپهای پراب پویشی استفاده میشود. علاوه بر این به علت قابلیت مطالعهٔ نمونهها در محلول آبی، امکان بررسی را در شرایط شبه-بیولوژیکی فراهم میکند.
[ویرایش] در علم مواد
میکروسکوپهای نیروی پویشی را میتوان برای تصویر برداری از اکثر مواد بکار برد. این تکنیکها برای تعیین خصوصیات سطحی مانند تخلخل، اندازه دانه، مرز دانه، ترکها، عیوب بلوری و ... بکار میرود.
[ویرایش] جستارهای وابسته
[ویرایش] منابع
- R. Wisendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy: Methods and applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994.
[ویرایش] منابعی برای مطالعه بیشتر
- Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata (Eds.), Applied Scanning Probe Methods 7 vols., Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007.
این نوشتار دربارهٔ مهندسی مواد ناقص است. با گسترش آن به ویکیپدیا کمک کنید.