Mikroskop optik
Dari Wikipedia bahasa Melayu
Mikroskop optik merupakan mikroskop berasaskan kanta optikal. Ahli sains yang berkait rapat dengan pembangunan mikroskop optik adalah Anton van Leeuwenhoek.
Jadual isi kandungan |
[Sunting] Mikroskop mudah
Mikroskop Leeuwenhoek terdiri daripada kanta optik kecil tunggal dilekatkan pada kepingan logam dengan pemegang untuk memegang bahan untuk dikaji. Penggunaan kanta cembung tunggal dikenali sebagai mikroskop mudah, yang termasuk kanta pembesar, kanta tangan, dan cermin pembesar tukang emas
[Sunting] Mikroskop ganda
Gambarajah di bawah menunjukkan mikroskop majmuk. Dalam bentuk termudah sebagaimana digunakan oleh Robert Hooke, mikroskop ganda mempunyai kanta kaca dengan jarak fokus dekat sebagai objectif, dan kanta kaca tunggal sebagai bahagian mata atau okular.
[Sunting] Unsur utama mikroskop asas
Mikroskop jenis ini biasanya lebih rumit dengan komponen kanta majmuk di kedua objektif dan bahagian mata. Kanta komponent majmuk ini bertujuan untuk mengurangkan herotan, terutamanya herotan khromatik dan herotan spherical. Dalam mikroskop moden, cermin digantikan dengan unit lampu yang membekalkan cahaya yang boleh dikawal dan stabil. Mikroskop majmuk biasanya digunakan untuk mengkaji spesimen nipis disebabkan ia mempunyai depth of field yang terhad. Biasanya ia digunakan untuk memeriksa lumuran, penyediaan penyek, atau hirisan nipis sesuatu bahan. Biasanya ia bergantung kepada cahaya melalui contoh dari bawah, dan teknik khusus diperlukan untuk meningkatkan perbezaan dalam imej kepada tahap berguna (lihat Kaedah perbezaan di bawah).
Disebabkan oleh diffraction, mikroskop optik terbaik terhad kepada resolusi 0.2 mikrometer.
[Sunting] Mikroskop binokular
Peralatan ini direka berbeza dengan diagram di atas, dan digunakan untuk tujuan berbeza sedikit. Ia menggunakan dua bahagian mata (atau kadang kala dua mikroskop lengkap) untuk memberikan sudut pandangan berbeza sedikit kepada mata kiri dan kanan. Dengan cara ini ia menghasilkan pandangan tiga dimensi (3-D) contoh yang dikaji.
Mikroskop binokular sering digunakan untuk mengkaji permukaan spesimen pepejal.
[Sunting] Reka bentuk khusus
Jenis mikroskop lain termasuk
- Mikroskop terbalik untuk mengkaji contoh dari bawah.
- Mikroskop pelajar direka untuk kos murah, tahan lasak, dan mudah digunakan.
- Mikroskop penyelidik biasanya merupakan peralatan mahal dengan banyak pengelokan khusus.
[Sunting] Kaedah pebezaan
Untuk melihat secara terperinci dalam spesimen nipis, biasanya perlu bagi meningkatkan lagi perbezaan. Kaedah digunakan termasuk.
- Staining the specimen with a dye
- Mikroskopi beza fasa "Phase contrast"
- Mikroskopi beza-jelas gangguan "Interference contrast"
- Mikroskopi Differential interference contrast microscopy
- Mikroskopi pendarfluor "Fluorescence microscopy"
- Mikroskopi medan gelap
Kadang kala gabungan beberapa kaedah di atas digunakan pada masa yang sama kerana setiap kaedah menonjolkan ciri berlainan dalam contoh.
microscopy, mikroskopi bright field microscopy, mikroskopi medan cerah dark field microscopy, mikroskopi medan gelap dark-field microscopy, mikroskopi medan gelap double-image microscopy, mikroskopi imej ganda dua electron microscopy, mikroskopi elektron interference contrast microscopy, mikroskopi beza-jelas gangguan microscopy, mikroskopi phase microscopy, mikroskopi fasa polarised light microscopy, mikroskopi cahaya terkutub scanning electron microscopy, mikroskop elektron pengimbasan transmission electron microscopy, mikroskopi elektron penghantaran ultramicroscopy, ultramikroskopi dark field microscopy, mikroskopi medan gelap dark position (microscopy), kedudukan gelap ore microscopy, mikroskopi bijih polazation microscopy, mikroskopi pengutuban